Российские учёные создали новый метод ближнепольной микроволновой микроскопии, который помогает исследовать структуру материалов и находить дефекты в сверхпроводящих кубитах. Этот подход активно используется в различных областях, включая анализ паразитных систем на подложках с кубитами. Это критически важная задача для учёных.
Ближнепольные СВЧ-микроскопы представляют собой специальные приборы, похожие на атомно-силовые микроскопы, но работают на принципе сканирующих зондовых микроскопов. Они используют сверхтонкие иглы, испускающие микроволновые сигналы, чтобы исследовать материалы на малом расстоянии от их поверхности.
Эти сигналы, отражаясь от образца, позволяют измерять различные характеристики материала и выявлять его структуру и состав. Однако часто возникают помехи от паразитных сигналов, что затрудняет проведение точных измерений, поэтому учёным важно разрабатывать методы их минимизации.
